DAC曲線是距離-波幅曲線的德文簡稱。是根據相同大小缺陷以不同聲程，反映回波波幅大小的曲線。做DAC曲線是在測量探頭前沿，零點、K值后做出的，就是以一個基準來判定缺陷，缺陷分區及定量。實際上是有一組曲線即：判廢線（RL)、定量線（SL)和評定線(EL)。

評定線至定量線以下區域為I區﹔定量線至判廢線以下區域為Ⅱ區;判廢線及以上區域為Ⅲ區。

DAC曲線: 距離(或深度)-幅度曲線

橫坐標: 表示距離(或深度)

縱坐標: 表示波幅(傷的嚴重程度)

同一大小的缺陷隨著深度的增大，其回波幅度呈下降趨勢,把不同深度的同一大小的人工缺陷的反射回波幅度連成一條曲線，這條曲線即是DAC曲線。

DAC曲線的作用:對缺陷進行分級

可以大致認為:1區: 為1級缺陷

II區:  為2級缺陷

III區: 為3級缺陷

宇時先鋒YUT-2600探傷儀使用斜探頭斜探頭測焊縫應用操作步驟如下：

一、調聲速：按基本光標選到聲速，調整聲速值為3240m/s。

二、測零點:調整聲程為125mm將探頭耦合到CSK-ⅠA試塊上前后移動找到R100mm最高回波，將閘門套住此回波，按自動增益鍵使回波達到屏幕80%，按探頭使光標選到探頭零點，按波峰記憶，使屏幕左上角聲程顯示為↘ 100.0。探頭零點自動校準完成。 此時，用鋼板尺量出探頭前端到試塊端的距離L，然后用100-L所得的數值X為探頭前沿值，光標選前沿長度，按→鍵調整數值為X。

三、測K值

將探頭耦合到CSK-ⅠA試塊上前后移動找到φ50mm最高回波，將閘門套住此回波,

按自動增益鍵使回波達到屏幕80%，按探頭光標移到探頭K值下面（0.00），按波峰記憶完成K值自動校準。

斜探頭的 K值常用CSK- IA試塊上的Φ50 mm和Φ1.5 mm橫孔來測定，如圖4- -52 所示。測定方法如下:

當探頭置于B位置時，可測定β，為35°~75° (K=0. 7~1.73);

當探頭置于C位置時，可測定p.為60°~75° (K=1.73~3. 73);

當探頭置于D位置時，可測定β.為75°~80° (K=3. 73~5.67)。

下面以C位置為例說明K值的測試方法。探頭對準試塊上中50mm橫孔，找到最高回波，并測出探頭前端至試塊端面的距離L,則有:

四、制作DAC曲線（取點應為將要探傷板厚的2倍+10）

① 將探頭耦合到CSK-IIA-II試塊上，前后移動找到10mm孔的最高回波，用閘門套住此回波按自動增益使此回波達到屏幕80%，按曲線，再按→使DAC回波顯示為1；

② 移動探頭找到30mm孔的最高回波，按↓鍵反選閘門a起位，按→鍵使閘門套住此回波，再按→使DAC回波顯示為2 

③ 移動探頭找到50mm孔的最高回波，按→鍵使閘門套住此回波，再按→使DAC回波顯示為3，此時DAC母線已完成。

五、按曲線使界面出現 a判廢線、b 定量線 c評定線。

NB/T47013-2015標準，（用CSK-IIA試塊）

板厚6-40mm，輸入 ，c-18db,  b-12db , a-4db ，

板厚40-100mm,c-14db,  b-8db , a+2db,

板厚100-200mm,c-10db,  b-4db , a+6db,DAC曲線制作完成。

GB/T11345-2013標準（用RB試塊）

按曲線使界面出現 a判廢線、b 定量線 c評定線。

我們出廠以2級為例，

板厚8-15mm，L≤T時 輸入 ，c-14db,  b-8db , a-4db ，

板厚15-100mm,0.5T＜L≤T時輸入c-14db,  b-10db , a-6db

六、設置表面補償和評估曲線

按基本鍵選擇補償 ，設定工件表面補償值，一般設為+4db

掃查靈敏度：按基本鍵通過調整增益，一般設定為評定線達到顯示屏滿刻度的20%和二倍板厚交點的dB值。

按存儲鍵，選擇一個空的通道號，校準的參數和DAC曲線均保存在通道里。

焊縫探傷

一準備：開機后，選擇存儲號，調出DAC曲線

2.將“探頭”功能中的“工件厚度”調為板厚的2倍，以保證屏幕能顯示探頭的二次波掃查波形，避免漏檢。將閘門展寬，按基本光標停到增益處，開始探傷

二、將探頭放在待測工件上進行掃查如圖所示箭頭表示掃查方向

當發現缺陷后觀察回波高度，如果回波高度超過定量線，此時仔細移動探頭尋找最高回波，找到最高波后，按住探頭不動，此時觀察屏幕上數據顯示區缺陷深度的讀數 x.x 即H，以及波高所在區域，并用鋼尺量出探頭到鋼板左端邊的距離即S3，（從探頭中心位置測量，或從探頭左邊測量再加上探頭寬度的二分之一），再觀測屏幕上數據顯示區缺陷水平的讀數 x.x，用鋼尺從探頭前端量出缺陷所在位置，并用鋼尺量出缺陷位置與焊縫中心線的距離，如上圖，假如量出距離為3mm，缺陷偏向焊縫中心線B（－）側，則記錄為B3或－3（即在B欄中填寫3），此時缺陷最大波幅時的數據記錄完畢。

測量缺陷長度

按自動增益鍵，將缺陷最高波調整到滿刻度的80％，此時向左平行移動探頭觀察屏幕上的回波，當回波降低到40％的時候，（即最高波的一半）此時量出探頭到鋼板左端邊距離，記作S1，此時再向右平行移動探頭，回到最高波位置，然后繼續向右平行移動，直到回波降低到40%的時候，此時量出探頭到鋼板左端邊的距離，記作S2，然后用S2減去S1所得到的數值即為缺陷長度（L）。

將上面測量出的數據填入表格里相應的欄目中。依照上述方法將缺陷逐一找出并測量。