新標(biāo)準(zhǔn)的CSK-IA試塊有三點改進;

　　1.將直孔?50mm改進?50mm、?44mm、?40mm臺階孔，以便于測定橫波斜探頭的分辨力。

　　2.將R100改為R100、R50階梯圓弧，以便于調(diào)整橫波掃描速度和檢測范圍。

　　3.將試塊上標(biāo)定的折射角改為K值，從而可直接測出橫波斜探頭的K值。

　　我國的CSK系列標(biāo)準(zhǔn)試塊比較特殊，要求試塊材質(zhì)與工件相同或相近。CSK-IIA、CSK-IIIA試塊主要用于測定橫波距離-波幅曲線(DAC曲線)、斜探頭的K值和調(diào)整橫波掃描速度和靈敏度等。其中CSK-IIA和CSK-IIIA適用于壁厚范圍為8-120mm的焊縫，CSK-IVA系列試塊用于壁厚范圍120-140mm的焊縫。